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平移式测试分选机

EXCEED-6000系列分选机

用于Functional Test 的IC测试分类，具有高产能、高稳定性。支持IC芯片在不同环境（常温、高温），进行8site 并行测试分选。

产品特点

用于Functional Test 的IC测试分类，具有高产能、高稳定性。
支持IC芯片在不同环境（常温、高温），进行8site 并行测试分选。

Input shuttle、自动出盘均配备光纤式浮动检查，可更精准的监测料的状态，防止叠料、翘料等情况造成料的损伤；

characteristic

上下料臂使用磁栅尺定位，可支持最小2x2mm的产品测试，跑小料也能稳定、高良率运行；

characteristic

整机尺寸小巧紧凑，功能齐全，可满足小空间布置；

characteristic

支持针对不同客户的功能定制开发。

characteristic

技术参数

Model	EXCEED6040	EXCEED6080	EXCEED6040H	EXCEED6080H
Test Layout	1/2/4 site	1/2/4/8 site	1/2/4 site	1/2/4/8 site
Temperature type	Ambient temp		Dual temp
Pick-up head	2x2 module
Contact Force	120kgf (Option: 240kgf)
Test Opening	210 mm x 134 mm
Package Type	QFN,QFP,BGA,LGA,PLCC,PGA, CSP,TSOP etc.
Tray Type	JEDEC
Temperature Range	+50℃ to +100℃ ±2℃ ； +100℃ to +130℃ ±3℃
Tester Interface	GPIB ,TTL, RS232 ,Network